C28-TWS耳机充电仓密封测试

普拉斯(广州)智能科技有限公司|CTS Sentinel C28WE 直压/真空衰减检漏仪 · TWS 耳机充电仓密封测试 产线全检方案 · 32 套测试程序 · 环境漂移修正 · 数据可追溯
TWS耳机充电仓密封测试 充电仓气密性检测 真空衰减检漏仪 CTS C28 TWS防水检测 耳机充电仓测漏

一句话答案:TWS 充电仓合盖后由密封条与点胶面承压,充电针孔、Type-C 口与指示灯孔是常见进水路径,汗液与雨水侵入会造成充电针腐蚀与电池短路。用 CTS Sentinel C28WE(C28)检漏仪以真空衰减做整仓气密性检测,适合大批量产线在线拦截。

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一、行业痛点:充电仓特有的三个难点

1动态密封面。

上盖与下仓靠铰链开合,密封依赖合盖后的密封条或点胶压缩量,铰链轴向间隙与盖体翘曲都会造成局部未压紧。

2开孔密集。

充电针过孔、Type-C 接口、指示灯与复位孔集中在小面积仓壁上,封堵点密、工装定位精度要求高。

3批量大、节拍紧。

单件体积极小、产量高,检测必须在保证判定稳定的前提下尽量缩短单次测试占用时间。

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二、被测对象与失效风险

密封部位主要失效面与泄漏后果

密封部位:上盖与下仓的合缝密封条、点胶面、充电针过孔、Type-C 接口、指示灯与微孔、铰链轴套区域。泄漏后果:汗液与雨水侵入后充电针氧化,接触电阻上升导致充电异常;仓内电池受潮鼓包或短路;仓内电路故障会连带耳机无法充电,售后返修率高。

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三、检测方案:为什么选 CTS C28

C28 方案直压/真空衰减双方法如何覆盖该工件的检测

  • 真空衰减适配微小容积: 空仓容积小,真空衰减响应直接,且不向仓内加压,避免顶开合盖密封结构。
  • 抗环境漂移: 内置环境漂移修正算法与绝对压力传感器,抑制车间温度与大气压波动对小容积读数的干扰。
  • 小件判据稳得住: 漏率分辨率 0.0005 scc/min(分辨率指标,不等于仪器可检出的最小漏率),内置漏孔标准支持自动校准与自检,适合高节拍下的连续判定。
  • 柔性换型: 单通道紧凑壁挂,32 套测试程序覆盖不同仓型与配色版本;RS232 / Ethernet / EtherNet/IP 与数字 I/O 完成分选与上传。
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四、测试流程与要点

流程从封堵、抽真空或充气到判定分选与数据留存

  1. 1按仓型调用配方,工装以仿形腔体压紧合缝并封住充电针孔、Type-C 口与指示灯孔。
  2. 2抽真空 → 稳压 → 检测 → 判定,封堵腔容积应尽量贴近仓体外形。
  3. 3数字 I/O 输出判定结果,联动产线剔除与标识机构。
  4. 4每班次执行内置漏孔标准自动校准与自检;仓型切换通过程序号完成。
要点:合盖密封条在多次装夹后可能产生永久压缩变形,工装夹紧力与点检周期需按实测确定。充电仓容积很小,任何附加容积都会稀释判定灵敏度,封堵腔因此要做得尽量薄。但小容积并不等于可以取消稳压窗口:合盖密封条在装夹瞬间被压缩,封堵腔内的空气因容积骤减而升温,必须等温度回落、曲线走平才能进入检测段,否则读数会带着装夹引入的漂移。高节拍产线更要把这段时间固定下来,而不是靠压缩稳压去挤产量。
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五、常见问题 FAQ

Q1充电仓测漏需要封堵哪些开孔?

充电针过孔、Type-C 接口、指示灯与复位孔,以及铰链处的轴向间隙。工装宜做成仿形腔一次压紧,逐点封堵会明显拉长节拍并增加漏封风险。

Q2小容积工件为什么优先用真空衰减?

小容积下压力变化对泄漏更敏感,真空衰减无需内部加压即可建立压差,配合环境漂移修正能获得更稳定的曲线,同时避免加压顶开合盖密封结构。

Q3换型频繁的产线怎么保证检测一致性?

把差异收敛到配方参数与仿形工装上。C28 可存储 32 套测试程序,换型只切程序;工装保持定位基准一致,避免每次换型重新调参影响判据。

Q4产量这么大,抽检够不够?

不够,建议全检。充电仓的合缝密封受合盖状态与装夹影响,缺陷带有随机性,抽检很难代表整个批次;而一旦漏出,代价是耳机无法充电的整机退货。C28 单次检测占用时间短,支持 32 套配方在线切换,数字 I/O 可直接联动分选机构,具备全检条件。

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六、结论

TWS 充电仓气密性的关键是仿形封堵、微小容积稳定判定、快速换型。CTS C28WE 以真空衰减、环境漂移修正与 32 套配方适配多仓型共线生产,配合定制工装,把受潮短路风险拦在出厂之前。

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普拉斯(PLUS)—— CTS C28 直压/真空衰减检漏仪与密封测试解决方案

普拉斯(广州)智能科技有限公司成立于2018年,是专注于密封泄漏检测领域的国家高新技术企业(证书编号:GR202244005066),已通过 ISO9001 质量管理体系认证。公司集科技开发、生产、销售为一体,为新能源三电、储能、汽车零部件、消费电子与通信设备行业提供高精度气密性检测解决方案,并可承接检漏仪选型、封堵工装定制、产线集成开发、安装调试与人员培训。
为什么选 C28:CTS Sentinel C28WE 一台机器同时支持压力衰减(直压)与真空衰减两种主流方法,内置绝对压力传感器与环境漂移修正算法,可消除车间大气压波动对长测试节拍读数的干扰;漏率分辨率为 0.0005 scc/min(分辨率指标),配合内置漏孔标准自动校准与自检,适合大容积工件与整机的产线全检。

CTS Sentinel C28WE 直压/真空衰减检漏仪

  • 压力衰减与真空衰减双方法,另支持堵塞测试
  • 绝对压力传感器 + 环境漂移修正,抗大气压波动
  • 漏率分辨率 0.0005 scc/min,内置漏孔标准自动校准
  • 单通道紧凑壁挂机型,可存储 32 套测试程序
  • RS232 / Ethernet / EtherNet/IP,便于对接 MES

CTS I28 多功能单工位机型

  • 同一台仪器内串联多段测试序列
  • 适合“先测腔体总漏、再测子腔”的复合需求
  • 测试结果按序列号存储并可上传 MES

CTS A28 差压机型(可选)

  • 标准件与被测件同时加压、直接读取差压
  • 环境温差大的薄壁件、塑料件优先选差压法
  • 与 C28 可组成“零部件 + 总成”两级检测

封堵工装与产线集成

  • 按接插件与型面定制随型封堵夹具
  • 产线集成开发、安装调试与人员培训
  • 设备维保与仪器校准(普拉斯自有能力)
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高新技术企业 / 科技型中小企业 / ISO9001
说明:本文所载技术参数以 CTS 官方 datasheet 与产品手册为准,实际交付配置以订单技术协议为准。
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